CIC nanoGUNE-k kalitatea kontrolatzeko sistema bat garatu du grafenozko gailuetarako

2016ko Martxoa 10,

SPRI_innovación_Nanogune
Teknika hau ICFOren lankidetzaz garatu da

CIC nanoGUNE nanozientzien arloko ikerketa kooperatiboko euskal zentroak grafenozko gailuen kalitate-kontrola egiteko tresna berritzaile eta ez-inbasiboa garatu du.

Grafenozko gailuen nanoeskalako propietate optoelektronikoak eraginkortasunez karakterizatzea ahalbidetuko duen teknika bat da, Kataluniako Zientzia Fotonikoen Institutuaren (ICFO) lankidetzaz gauzatutako garapen honen muina.

Ikerketa-taldean Pablo Alonso González zientzialariak eta Rainer Hillenbrand Ikerbasqueko ikertzaileak parte hartu dute, beste hainbat aditurekin batera.

Grafenozko gailu elektroniko eta optoelektronikoen erabilera eskuin-ezker zabaltzen ari da, baina era horretako soluzioen funtzionamendu egokia lortzeko, behar-beharrezkoa da nanoeskalan eta eskala atomikoan dauden inperfekzioak murriztea.

Orain arte, teknika inbasiboak erabili izan dira grafenozko sistemak ikuskatzeko. Teknika horiek zeregin horretarako propio diseinatutako egiturak behar izaten dituzte eta ez dute bereizmen-maila nanometrikorik.

Horien aldean, CIC nanoGUNEko zientzialariek garatutako tresnak zenbait teknika aurreratu konbinatzen ditu, teknologia elektroniko zein optoelektrikoetan txertatzeko moduko ikuskaritza-aukera ez-inbasiboei atera irekiz.

Erlazionatutako artikuluak
Orobat interesa dakizuke